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1 617 晶体光学考研大纲 一、考试性质与范围 《晶体光学》是矿物学、岩石学、矿床学专业硕士研究生的入学专业基础考 试课程。主要考查学生对《晶体光学》基本概念和基本原理的掌握,以及是否具 备运用偏光显微镜,在单偏光系统、正交偏光系统和锥光(聚敛偏光)系统下观 察和鉴定透明矿物晶体光学性质的基本能力。考试范围包括光的基本概念、光率 体、偏光显微镜原理,以及单偏光、正交偏光和锥光(聚敛偏光)下晶体的光学 性质与测定方法。 二、考试基本要求 考试题目类型因年而异,包括概念、选择、填空、判断正误、公式推导、作 图、简答和分析论述等不同形式。 考生需要携带铅笔、橡皮、直尺、圆规、量角器。 三、考试形式与分值 本课程由学校自行命题,全国统一考试。采用闭卷笔试形式,考试时间 180 分钟,满分 150 分。 四、考试内容 1. 基本概念 (1)光的性质与传播;(2)自然光和偏光;(3)光的折射与全反射;(4)折射率与折射率 仪;(5)光的双折射;(6)一轴晶和二轴晶 2. 光率体 (1)光率体;(2)一轴晶光率体;(3)二轴晶光率体;(4)光率体的主要参数;(5)光性 方位 3. 偏光显微镜 (1)偏光显微镜的构造;(2)偏光显微镜的光学系统;(3)偏光显微镜的调节;(4)薄片 的制作 4. 单偏光系统下晶体的光学性质 (1)形态;(2)解理;(3)吸收;(4)界面 5. 正交偏光系统下晶体的光学性质 2 (1)消光;(2)干涉原理;(3)干涉色;(4)干涉色级序的确定;(5)补色原理与补色器; (6)消光类型与消光角;(7)延性;(8)双晶 6. 锥光(聚敛偏光)系统下晶体的光学性质 (1)锥光(聚敛偏光)系统;(2)一轴晶的干涉图;(3)二轴晶的干涉图;(4)光率体色 散 7. 晶体光学应用 (1)单偏光系统下的性质测定:包括晶形、颜色或多色性、突起与糙面、解理及解理角等; (2)正交偏光系统下的性质测定:包括最高干涉色、最大双折射率、消光类型及消光角、 延性符号、多色性和吸收性公式、异常干涉色等; (3)锥光(聚敛偏光)系统下的性质测定:包括按干涉图类型确定矿物的轴性、测定光性 符号、估计光轴角大小、色散强弱等
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